國內外型號參數對比報告

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RFD8P05與VBFB2610N參數對比報告
時間:2026-05-07
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P溝道功率MOSFET參數對比分析報告: RFD8P05與VBFB2610N

一、產品概述


RFD8P05:安森美(onsemi/原 Fairchild)P溝道功率MOSFET,採用MegaFET工藝製造,耐壓50V,導通電阻低(0.300Ω)。提供TO-251AA (RFD8P05)、TO-252AA (RFD8P05SM)、TO-220AB (RFP8P05)多種封裝選擇。適用於開關穩壓器、轉換器、電機驅動及繼電器驅動等應用。

 

VBFB2610NVBsemi P溝道60V溝槽型功率MOSFET,低導通電阻,100%雪崩測試。封裝:TO-251。適用於負載開關等應用。

 

二、絕對最大額定值對比

 

參數

 

符號

 

RFD8P05

 

VBFB2610N

 

單位

 

-源電壓

 

VDSS

 

-50

 

-60

 

V

 

-源電壓

 

VGSS

 

±20

 

±20

 

V

 

連續漏極電流 (Tc=25°C)

 

ID

 

-8

 

-20

 

A

 

脈衝漏極電流

 

IDM

 

-20

 

-150

 

A

 

最大功率耗散 (Tc=25°C)

 

PD

 

48

 

35

 

W

 

溝道/結溫

 

Tch/TJ

 

175

 

150

 

°C

 

存儲溫度範圍

 

Tstg

 

-55 ~ +175

 

-55 ~ +150

 

°C

 

雪崩能量(單脈衝)

 

EAS

 

未提供 (參考曲線)

 

101

 

mJ

 

雪崩電流

 

IAV

 

未提供

 

-5

 

A


分析VBFB2610N 具有更高的耐壓等級(-60V vs -50V)和顯著更高的連續與脈衝電流額定值(-20A/-150A vs -8A/-20A)。RFD8P05 的最大結溫更高(175°C vs 150°C),功率耗散能力也略高(48W vs 35W)。VBFB2610N 提供了明確的雪崩能量額定值。

 

三、電特性參數對比

3.1 導通特性

 

參數

 

符號

 

RFD8P05

 

VBFB2610N

 

單位

 

-源擊穿電壓

 

V(BR)DSS

 

-50 (最小)

 

-60 (最小)

 

V

 

柵極閾值電壓

 

VGS(th)

 

-2 ~ -4

 

-1.0 ~ -2.5

 

V

 

導通電阻 (VGS=-10V)

 

RDS(on)

 

0.300 最大 @ ID=-8A

 

0.066 典型 @ ID=-30A

 

Ω

 

正向跨導

 

gfs

 

未提供

 

20 典型 @ ID=-50A

 

S

 

分析VBFB2610N 的導通電阻顯著更低(0.066Ω vs 0.300Ω),展現出更優異的導通性能。其閾值電壓範圍也更低且更集中,可能在低柵極驅動電壓下更易完全開啟。

 

3.2 動態特性

 

參數

 

符號

 

RFD8P05

 

VBFB2610N

 

單位

 

輸入電容

 

Ciss

 

未提供

 

1200

 

pF

 

輸出電容

 

Coss

 

未提供

 

200

 

pF

 

反向傳輸電容

 

Crss

 

未提供

 

150

 

pF

 

總柵極電荷 (VGS=0 to -10V)

 

Qg

 

80 最大

 

40 典型

 

nC

 

-源電荷

 

Qgs

 

未提供

 

16 典型

 

nC

 

-漏(米勒)電荷

 

Qgd

 

未提供

 

19 典型

 

nC

 

總柵極電荷 (VGS=0 to -5V)

 

Qg(-5)

 

40 最大

 

未提供

 

nC

 

分析VBFB2610N 的總柵極電荷更低(40nC vs 80nC),意味著柵極驅動損耗和開關延遲可能更小。電容參數方面,RFD8P05 數據手冊未提供典型值。

 

3.3 開關時間

 

參數

 

符號

 

RFD8P05

 

VBFB2610N

 

單位

 

開通延遲時間

 

td(on)

 

16 典型

 

10~15

 

ns

 

上升時間

 

tr

 

30 典型

 

7~15

 

ns

 

關斷延遲時間

 

td(off)

 

42 典型

 

70~110

 

ns

 

下降時間

 

tf

 

20 典型

 

40~60

 

ns

 

分析:兩款器件的開關時間處於同一數量級。RFD8P05 的關斷延遲和下降時間在給定測試條件下更短,而 VBFB2610N 的開通延遲和上升時間範圍更優。注意:兩者測試電路(VDD, ID, RG)不同,直接比較需謹慎。

 

四、體二極體特性

 

參數

 

符號

 

RFD8P05

 

VBFB2610N

 

單位

 

二極體正向壓降

 

VSD

 

-1.5 最大 @ ISD=-8A

 

-1.0 ~ -1.5 @ IS=-30A

 

V

 

反向恢復時間

 

trr

 

125 最大

 

45~68

 

ns

 

反向恢復電荷

 

Qrr

 

未提供

 

59~120

 

nC

 

分析VBFB2610N 在更大的測試電流下提供了相近的二極體正向壓降範圍。其反向恢復時間範圍(45-68ns)優於 RFD8P05 的最大值(125ns),並提供反向恢復電荷參數,對於開關應用中的二極體反向恢復損耗評估更有參考價值。

 

五、熱特性

 

參數

 

符號

 

RFD8P05

 

VBFB2610N

 

單位

 

-殼熱阻

 

RθJC

 

3.125 最大

 

1.2 最大

 

°C/W

 

-環境熱阻 (TO-251/252)

 

RθJA

 

100 最大

 

40 最大

 

°C/W

 

-環境熱阻 (TO-220AB)

 

RθJA

 

62.5 最大

 

未提供

 

°C/W

 

分析VBFB2610N 的熱阻性能顯著更優,尤其是結-殼熱阻(1.2°C/W vs 3.125°C/W),這意味著在相同功耗下,其晶片結溫更低,熱可靠性更高,有利於提升電流承載能力或簡化散熱設計。

 

六、總結與選型建議

 

RFD8P05 優勢

 

VBFB2610N 優勢

 

◆ 更高的最大結溫(175°C)


◆ 提供TO-220AB等多種封裝選項,靈活性高


◆ 開關時間參數(尤其td(off)和tf)在特定測試條件下更短


◆ 數據手冊包含豐富的SOA、UIS等特性曲線,便於深度設計分析

 

 更高的耐壓(-60V)和電流能力(-20A/-150A)


 導通電阻極低(0.066Ω),導通損耗小


 總柵極電荷低(40nC),開關速度快


 熱阻極低(RθJC=1.2°C/W),散熱性能優異


 雪崩能量有明確保證(101mJ)


◆ 體二極體反向恢復特性更優

選型建議

 

選擇 RFD8P05:當應用需要更高的結溫裕量(175°C)、或特定需要TO-220AB等封裝形式、且對導通電阻和電流能力要求不苛刻的中低功率場景。

 

選擇 VBFB2610N:當應用追求更高的性能密度,需要更高的電壓電流等級、更低的導通與開關損耗、以及更優異的熱性能。其綜合性能參數顯著優於前者,非常適合對效率和功率密度有要求的負載開關、DC-DC轉換等中高功率應用。

 

備註本報告基於 RFD8P05(安森美/原 Fairchild)和 VBFB2610N(VBsemi)官方數據手冊生成。所有參數值均來源於原廠數據手冊,部分參數測試條件不同,直接對比時請留意。實際設計選型請以官方最新文檔和具體應用驗證為准。


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